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一. 產品簡介
JDG-S3立式光學計是一般是用標準器(如量塊)以比較法測量工件的尺寸。主要用于對五等量塊,量棒,鋼球,線形及平行平面狀精密量具和零件的外形尺寸作精密測量,本儀器頭部亦可作為一個獨立體,在科研,生產過程控制及在線測量等方面,對被測件作微小位移測量,及對非金屬如:薄膜、紙張等的厚度測量。
二. 技術規格
1.被測件*大長度:200 mm
2.直接測量范圍:10mm
3.*小顯示值:0.05μm
4.測量力:(2±0.2) N
5.示值變動性:0.1 μm
6.*大不準確度:±0.25 μm
7.讀數方式:液晶數字顯示,3英寸液晶顯示屏
8.*大測量誤差:±(0.5+L/100)μm ,L是被測長度,以mm計
9.儀器體積:300×170×410 mm
10.儀器重量:18 kg
“用戶的需要就是我們的追求”
上海光學儀器廠(簡稱:上光)坐落在上海楊浦區,現屬上海光學儀器研究所管轄生產型制造公司。上海光學儀器研究所擔負光學儀器新產品研制和開發,曾為上海光學儀器廠研制開發出各類光學儀器產品
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